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2015-7-2

闵为忠

新建

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1. 定义 SPC，即统计过程控制，是一套从生产过程中，定期抽取样本，测量各样本的质量特性值，然后将测得的数据加以统计分析，判断过程是否处于稳定受控状态，从中发现过程异常原因(特殊原因)，从而及时采取有效对策，使过程恢复到正常稳定受控状态。2. 目的 2.1确保电镀产品持续稳定、可预测。2.2提高产品质量、生产能力、降低成本。2.3为生产制造和过程分析提供依据。2.4区分变差的特殊原因和普通原因，作为采取局部措施或对系统采取措施的指南。3. 范围本规定适用于使用均值极差图（X-R图）的电镀产品。4．职责 4.1推进小组长：制定推进产品、方案和细则；小组工作推进和协调，SPC工作总负责；系统评论和推进；4.2 内部质量工程师：产品质量SPC推进，异常分析和持续改进；系统评论和推进；4.3 生产检验区域：产品SPC具体的数据输入；系统评论；4.4 技术人员：生产工艺调整；产品改进验证；4.5 挂具车间：挂具调整和优化；产品改进验证；4.6 SQE：供应商毛坯质量监控；产品质量改善推进；4.7 检具工程师：产品检具维护和检具优化；4.8 质量经理：整体工作监督和系统点评；各项工作总协调5. 流程/程序5.1 控制点识别：5.1.1根据新项目前期图纸要求的关键控制点或者特殊特性点输入；5.1.2 客户特殊需要或者异常抱怨需要监控的点；5.1.3 内部发现异常的、对于装配有影响的特殊特性点；5.1.4 具体控制点5.1.4.1 尺寸：PPAP上具体尺寸控制的要求；客户端抱怨尺寸问题；5.1.4.2重量：产品有开裂等性能风险；通过重量和镀层厚度的对应关系，通过重量的简便方法来监控产品重量的SPC，确保产品性能。5.1.4.3镀层厚度：客户端对开裂问题抱怨较大且无法通过重量监控的产品用镀层厚度来监控。5.2收集数据：5.2.1 子组大小：每批次同一缸电镀产品抽样4件连续产品，组成一个子组；子组数不少于25组。5.2.2 子组频率：生产计划≤8缸的产品，每批次抽样1组数据；生产计划≥8缸的产品，每批次抽样2组数据。5.3 数据输入5.3.1在ISI系统中输入相应产品名称、公差范围、上下限等信息；5.3.2在系统中根据各产品的生产频率输入测量数据，建立控制图及记录原始数据；5.3.3查看每个子组的均值（X）和极差R；查看控制限；5.4 过程控制分析分析控制图的目的在于识别过程变化或过程均值不恒定的证据。（即其中之一或两者均不受控）进而采取适当的措施；5.4.1 1个点落在A区以外：异常原因一般为: 新操作人员，方法不对，原料不合格；检验方法或标准变化；计算错误，测量误差；在电镀过程中的一般原因：取样的零件是最高区位置或者是最低区的位置；挂具导电异常造成；注塑毛坯重量，变形等；5.4.2连续6个点递增或递减异常原因一般为:工具逐渐磨损；维护水平逐渐降低；操作人员技能逐渐提高；在电镀过程中的一般原因：物料（阳极）的消耗，对于厚度、重量、尺寸的影响。；溶液浓度的持续下降。（从上限下降到下限的过程）5.4.3连续14个点中相邻点交替上下异常原因一般为:轮流使用两台设备；有两个操作员工轮流操作；使得数据分层不够；在电镀过程中的一般原因：生产过程中统计2个不同测量点的尺寸，造成的波动；白班和夜班人员的交替测量；5.4.4连续15个点落在中心线两侧的C区以内异常原因一般为:数据有假，计算错误；分层不够；在电镀过程中的一般原因：内部/客户对于产品制定尺寸范围限值过大；5.4.5连续8个点落在中心线两侧且无一在C区内异常原因一般为:数据数据分层不够；在电镀过程中的一般原因：内部/客户对于产品制定尺寸范围限值过大；取样为零件的中高区或者中低区，取样有误；5.4.6连续3个点中有2个点落在中心线同一侧的B区以外异常原因一般为:新操作人员，方法不对；机器故障；原料不合格；检验方法或标准变化；计算错误，测量误差；在电镀过程中的一般原因：新员工操作，培训不到位；在SPC系统中，内部标准范围设置不合理；在SPC系统中，控制限未设定或设置不合理；测量设备变化或者测量标准改变未及时更新；取样为零件的中高区或者中低区，取样有误。5.4.7连续5个点中有4个点落在中心线同一侧的C区以外异常原因一般为:新操作人员，方法不对；机器故障；原料不合格；检验方法或标准变化；计算错误，测量误差；在电镀过程中的一般原因：新员工操作，培训不到位；在SPC系统中，内部标准范围设置不合理；在SPC系统中，控制限未设定或设置不合理；测量设备变化或者测量标准改变未及时更新；取样为零件的中高区或者中低区，取样有误。5.4.8连续9个点落在中心线的同一侧异常原因一般为:新操作人员，方法不对；机器故障；检验方法或标准变化；计算错误，测量误差；在电镀过程中的一般原因：新员工操作，培训不到位；在SPC系统中，内部标准范围设置不合理；测量设备变化或者测量标准改变未及时更新；取样为零件的中高区或者中低区，取样有误。5.4.9识别并标注特殊原因：对于极差数据内每个特殊原因应在系统上进行跟踪评论、分析，确定产生特殊原因的理由，纠正该状态，防止再发生；5.4.10重新计算控制限：在进行首次过程研究或重新评定过程能力时，要排除已发现并解决了的特殊原因的任何失控点，然后重新计算并描画过程均值Xbar和控制限，使所有点均处于受控状态；5.5 过程能力分析5.5.1Cpk分析：